Archive for July 2020

  • 0

    FTIR (Fourier Tramsform Infra Red)
    Bidang Keilmuan - Himasaki Periode 2019-2020

    Secara umum, FTIR digunakan untuk menganalisis senyawa berdasarkan identifikasi gugus fungsinya pada panjang gelombang 14000-10/cm. Analisis senyawa dengan FTIR dapat berupa analisis kualitatif dan atau kualitatif. Pada riset kuantitatif, FTIR digunakan untuk mengetahui konsentrasi analit dalam sampel. Dasar dari analisis kuantitatif ini adlah hokum Lambert Beer’s. Pada riset kualitatif, FTIR dapat digunakan untuk mengidentifikasi gugus fungsi yang terkandung dalam sampel.

    Prinsip kerja FTIR adalah interaksi antara energi dan materi. Infrared yang melewati celah ke sampel, dimana celah tersebut berfungsi mengontrol jumlah energi ysng disampaikan kepada sampel. Kemudian beberapa infrared diserap oleh sampel dan yang lainnya di transmisikan melalui permukaan sampel sehingga sinar infrared lolos ke detektor dan sinyal yang terukur kemudian dikirim ke komputer dan direkam dalam bentuk puncak-puncak. Dalam FTIR terdapat 5 komponen utama penyusunya, yaitu :

    1.      Laser, berfungsi sebagai kalibrator internal yang memiliki panjang gelombang tertentu dan alignment tool untuk memastikan komponen optic dalam keadaan baik
    2.      Intereferometer, berfungsi untuk menciprakan panjang gelombang infra merah (400-4000 /cm). Di dalam intereferometer terdapat 3 komponen utama : fix mirror, moving mirror, dan beam splitter
    3.      Daerah cuplikan, dimana berkas acuan dan cuplikan masuk ke dalam daerah cuplikan dan masing-masing menembus sel acuan dan cuplikan secara bersesuaian
    4.      IR-Source (sumber sinar) berfungsi sebagai sumber energi utama cahaya infra merah yang terbuat dari filament Nernst yang dipanaskan menggunakan listrik hingga suhu 1000-1800℃
    5.      Detektor, berfungsi untuk menangkap sinyal (interferogram) infra merah setelah melewati sampel, sehingga dapat diubah menjadi sinyal digital untuk dikirim ke computer. Didalam komputer sinyal interferogram ini diterjemaahkan kedalam spectrum infra red melalui persamaan matematika Fourier Transform

    Adapun cara kerja dari FTIR ini adalah pada saat sinar inframerah dipancarkan, timbul perbedaan jarak yang ditempuk menuju cermin yang bergerak tegak lurus (M) dan cermin yang diam (F). Perbedaan jarak tempuh radiasi itu disebut dengan retardasi (δ). Hubungan antara intensitas radiasi IR yang diterima detektor terhadap retardasi disebut sebagai interferogram. Sedangkan sistemoptik dari Spektrofotometer Infra Red yang didasarkan atas bekerjanya interferometer disebut sebagai sistem optik Fourier Transform Infra Red.

    Pada sistem optik Fourier Transform Infra Red digunakan radiasi LASER (LightAmplification by Stimulated Emmission of Radiation) yang berfungsi sebagai radiasi yang diinterferensikan dengan radiasi infra merah agar sinyal radiasi infra merah yang diterima oleh detektor secara utuh dan lebih baik.


    Detektor yang digunakan dalam Spektrofotometer Fourier Transform Infra Red adalah Tetra Glycerine Sulphate (TGS) atau Mercury Cadmium Telluride (MCT). Detektor MCT lebih banyak digunakan karena memiliki beberapa kelebihan dibandingkan detektor TGS, yaitu memberikan respon yang lebih baik pada frekuensi modulasi tinggi, lebih sensitif, lebih cepat, tidak dipengaruhi oleh temperatur,sangat selektif terhadap energi vibrasi yang diterima dari radiasi infra merah.

    Analisis dengan FTIR memiliki beberapa keunggulan, diantaranya adalah :
    1.      Dapat digunakan pada semua frekuensi dari sumber cahaya secara simultan, sehingga analisis dapat dilakukan lebih cepat dari pada menggunakan cara scanning.
    2.  Sensitivitas FTIR adalah 80-200 kali lebih tinggi dari instrumentasi disperse standar karena resolusinya lebih tinggi. Sensitifitas dari metoda Spektrofotometri FTIR lebih besar dari pada cara dispersi, sebab radiasi yang masuk ke sistim detektor lebih banyak karena tanpa harus melalui celah (slitless)
    3.  Pada FTIR, mekanik optik lebih sederhana dengan sedikit komponen yang bergerak dibanding spektroskopi infra merah lainnya, dapat mengidentifikasi meterial yang belum diketahui, serta dapat menentukan kualitas dan jumlah komponen sebuah sampel

    Untuk lebih jelasnya, dapat mengunjungi video pada link https://www.youtube.com/watch?v=KRoWMB3AR3s

    FTIR (Fourier Tramsform Infra Red) Bidang Keilmuan - Himasaki Periode 2019-2020 Secara umum, FTIR digunakan untuk menganalisis seny...
  • 0

    Scanning Electron Microscope (SEM)

    Bidang Keilmuan - Himasaki Periode 2019-2020



    Scanning Electron Microscope (SEM) adalah mikroskop elektron yang digunakan untuk melihat permukaan citra suatu bahan, selain itu juga dapat memberikan informasi terkait komposisi kimia dalam suatu bahan, baik bahan konduktif maupun bahan non konduktif. Kemampuan ini lah yang membuat SEM banyak digunakan untuk keperluan penelitian dan industri. Mikroskop ini menggunakan elektro magnetik dan elektro statik untuk mengontrol cahaya yang masuk dan penampakan gambar yang dihasilkan. SEM memiliki Field view (FOV) yang besar, bisa melakukan pembesaran objek hingga satu sampai dua juta kali, namun juga menjamin resolusi gambar yang jauh lebih bagus dibandingkan dengan mikroskop cahaya.
    Elektron memiliki resolusi yang lebih tinggi daripada cahaya. Cahaya hanya mampu mencapai 200nm sedangkan elektron bisa mencapai resolusi sampai 0,1 – 0,2 nm. Dibawah ini diberikan perbandingan hasil gambar mikroskop cahaya dengan elektron.
    Berdasarkan karya Max Knoll dan Manfred von Ardenne pada tahun 1930-an, SEM terdiri dari seberkas elektron yang memindai permukaan sampel yang akan dianalisis dimana, sebagai tanggapan, kembali memancarkan partikel tertentu. Partikel ini dianalisis oleh detektor yang berbeda yang memungkinkan untuk merekonstruksi gambar tiga dimensi dari permukaan.
    Saat ini, pemindaian mikroskop elektron digunakan di berbagai bidang mulai dari biologi hingga teknik material, dan banyak produsen menawarkan serangkaian perangkat dengan detektor elektron sekunder dan resolusi yang berkisar antara 0,4 nanometer hingga 20 nanometer. (wikipedia)
    Ada banyak model SEM yang memiliki konfigurasi berbeda mengenai sistem vakum, ukuran ruang, detektor dan resolusi. Phenom adalah desktop SEM yang di desain untuk kualitas tinggi dari pengambilan gambar mikroskop, kecepatan waktu loading dan pengambilan gambar yang tidak tertandingi. dan dapat ditempatkan dimana saja-compact design. Phenom desktop SEM merupakan mikroskop elektron serbaguna yang hanya membutuhkan ruang dan perawatan yang lebih sedikit dibandingkan SEM floor Model. Phenom desktop SEM dapat diakses oleh siapa saja dari professional hingga academia dan digunakan untuk banyak aplikasi termasuk earth science, elektronik, forensik, industry manufacturinglife science, dan materials science.
    Bagian-Bagian Penting SEM Beserta Fungsinya
    1. Sistem Vacuum : Tanpa vacuum yang cukup dalam SEM, berkas electron akan sulit control atau dihasilkan.
    2. Sumber Elektron : Mampu membuat dan mempercepat elektron yang dibutuhkan agar hasilnya bisa lebih baik dibandingkan teknologi lainnya.
    3. Column : Berguna untuk memasang lensa yang dipakai saat sedang meneliti suatu bahan kimia ataupun zat yang ada.
    4. Stage : Memiliki fungsi utama untuk memindahkan sample dan membawanya menuju berkas electron.
    5. Detector System : Berfungsi untuk mengumpulkan elektron bergantung pada jenis interaksinya dengan sample.
    6. System Electronic : Memiliki fungsi untuk menggerakkan semua perangkat yang ada sesuai dengan fungsinya.
    7. Software : Berfungsi untuk menyederhanakan sistem pengoperasian pada SEM. (dynatech-int.com)
    Pada sebuah mikroskop elektron (SEM) terdapat beberapa peralatan utama antara lain:
    1. Pistol elektron, biasanya berupa filamen yang terbuat dari unsur yang mudah melepas elektron misal tungsten.
    2. Lensa untuk elektron, berupa lensa magnetis karena elektron yang bermuatan negatif dapat dibelokkan oleh medan magnet.
    3. Sistem vakum, karena elektron sangat kecil dan ringan maka jika ada molekul udara yang lain elektron yang berjalan menuju sasaran akan terpencar oleh tumbukan sebelum mengenai sasaran sehingga menghilangkan molekul udara menjadi sangat penting.
    Prinsip kerja dari SEM adalah sebagai berikut:
    1. Sebuah pistol elektron memproduksi sinar elektron dan dipercepat dengan anoda.
    2. Lensa magnetik memfokuskan elektron menuju ke sampel.
    3. Sinar elektron yang terfokus memindai (scan) keseluruhan sampel dengan diarahkan oleh koil pemindai.
    4. Ketika elektron mengenai sampel maka sampel akan mengeluarkan elektron baru yang akan diterima oleh detektor dan dikirim ke monitor (CRT). (material cerdas.wordpress.com)
    Secara lengkap skema SEM dijelaskan oleh gambar dibawah ini:

    Diagram skematik komponen inti dari mikroskop SEM

    (Sumber Gambar : Jurnal ”Scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM) for materials characterization”)

    Adapun fungsi utama dari SEM antara lain dapat digunakan untuk mengetahui informasi-informasi mengenai:
    1. Topografi, yaitu ciri-ciri permukaan dan teksturnya (kekerasan, sifat memantulkan cahaya, dan sebagainya).
    2. Morfologi, yaitu bentuk dan ukuran dari partikel penyusun objek (kekuatan, cacat pada Integrated Circuit (IC) dan chip, dan sebagainya).
    3. Komposisi, yaitu data kuantitatif unsur dan senyawa yang terkandung di dalam objek (titik lebur, kereaktifan, kekerasan, dan sebagainya).
    4. Informasi kristalografi, yaitu informasi mengenai bagaimana susunan dari butir-butir di dalam objek yang diamati (konduktifitas, sifat elektrik, kekuatan, dan sebagainya).
    SEM memiliki beberapa detektor yang berfungsi untuk menangkap hamburan elektron dan memberikan informasi yang berbeda-beda. Detektor-detektor tersebut antara lain:
    1. Detektor EDX, yang berfungsi untuk menangkap informasi mengenai komposisi sampel pada skala mikro.
    2. Backscatter detector, yang berfungsi untuk menangkap informasi mengenai nomor atom dan topografi.
    3. Secondary detector, yang berfungsi untuk menangkap informasi mengenai topografi.
    Kelebihan teknik SEM, yaitu terdapat sistem vakum pada electron-optical column dan sample chamber yang bertujuan antara lain:
    1. Menghilangkan efek pergerakan elektron yang tidak beraturan karena adanya molekul gas pada lingkungan tersebut, yang dapat mengakibatkan penurunan intensitas dan stabilitas.
    2. Meminimalisasi gas yang dapat bereaksi dengan sampel atau mengendap pada sampel, baik gas yang berasal dari sampel atau pun mikroskop. Karena apabila hal tersebut terjadi, maka akan menurunkan kontras dan membuat gelap detail pada gambar.
    Semua sumber elektron membutuhkan lingkungan yang vakum untuk beroperasi. (yudiprasetyo53.wordpress.com)
    Sedangkan kelemahan dari teknik SEM antara lain:
    1. Memerlukan kondisi vakum.
    2. Hanya menganalisa permukaan.
    3. Resolusi lebih rendah dari TEM.
    4. Sampel harus bahan yang konduktif, jika tidak konduktor maka perlu dilapis logam seperti emas.
    Scanning Electron Microscope (SEM) Bidang Keilmuan - Himasaki Periode 2019-2020 Scanning Electron Microscope (SEM) adalah mikr...
  • 0


    Kromatografi Gas-Spektrometri Massa GC-MS 

    Bidang Keilmuan - Himasaki Periode 2019-2020



    Kromatografi gas-spektrometri massa atau dikenal dengan GC-MS adalah metode kombinasi antara kromatografi gas dan spektrometri massa yang bertujuan untuk menganalisis berbagai senyawa dalam suatu sampel. Prinsip kerja yang dimiliki oleh keduanya sangat berbeda namun keduanya dapat digabungkan untuk mengidentifikasi suatu senyawa baik kualitatif maupun kuantitatif. Kromatografi gas merupakan salah satu bagian dari teknik kromatografi yang menggunkaan prinsippemisahan campuran berdasarkan kecepatan waktu retensi komponen penyusunnya. Kromatografi gas ini digunakan untuk senyawa yang bersifat volatil. Adapun pada spektrofotometri massa suatu komponen akan ditentukan berat molekulnya dengan cara mencari perbandingan massa terhadap muatan dari ion yang muatannya diketahui dengan cara mengukur jari-jari orbit dalam medan magnetik seragam. Spektrofotometri ini akan berfungsi ketika komponen yang telah berhasil dipisahkan pada kromatografi gas akan dideteksi dengan cara menembakkan berkas elektron dan diubah menjadi ion ion. Ion- ion yang telah terbentuk kemudian akan terbaca pada kolektor dan merubahnya kedalam bentuk spektrum massa.
    Dalam tekniknya, kromatografi gas dan spektrofotometri massa memiliki banyak kesamaan. Untuk kedua sampel tersebut, sampel yang dibutuhkan dalam bentuk fasa uap dan keduanya juga membutuhkan jumlah sampel yang sangat sedikit yakni umumnya kurang dari 1ng. molekul- molekul yang berada dalam suatu campuran dipisahkan dari molekul dengan melewatkan sampel sepanjang kolom. Molekul-molekul memerlukan jumlah waktu yang berbeda (disebut waktu retensi) untuk keluar dari kromatografi gas, dan ini memungkinkan spektrometri massa untuk menangkap, ionisasi, mempercepat, membelokkan, dan mendeteksi molekul terionisasi secara terpisah. Spektrometri massa melakukan hal ini dengan memecah masing-masing molekul menjadi terionisasi mendeteksi fragmen menggunakan massa untuk mengisi rasio.
    Metode analisis pada GC-MS ialah dengan membaca spektar yang terdapat pada kedua metode yang digabung. Pada spektra GC banyaknya senyawa dapat terlihat pada banyaknya puncak (peak) dalam spektra GC tersebut. Senyawa tersebut dapat diketahui dengan cara membandingkan waktu retensi senyawa dengan literatur. Selanjutnya adalah dengan memasukkan senyawa yang diduga tersebut ke dalam instrumen spektrometer massa. Hal ini dapat dilakukan karena salah satu kegunaan dari kromatografi gas adalah untuk memisahkan senyawa-senyawa dari suatu sampel. Setelah itu, didapat hasil dari spektra spektrometri massa pada grafik yang berbeda. Informasi yang  diperoleh dari kedua teknik ini yang digabung dalam instrumen GC/MS adalah tak lain hasil dari masing-masing spektra. Untuk spektra GC, informasi terpenting yang didapat adalah waktu retensi untuk tiap-tiap senyawa dalam sampel. Sedangkan untuk spektra MS, bisa diperoleh informasi mengenai massa molekul relatif dari senyawa sampel tersbut.
    Pada instrumen GC-MS ini terdapat komponen komponen penyusunnya seperti:

    1.     1.Injection Port
    Injection port merupakan bagian GC-MS yang berfungsi untuk menerima dan membawa sampel yang disuntikkan ke dalam instrumen yang nantinya sampel yang di injeksikan akan di teruskan kedalam kolom. Untuk mendapatkan efisiensi kolom yang baik, pelebaran pita uap harus dicegah dengan cara injeksi sampel cepat dan volume sampel tidak berlebihan. Oleh karena itu, sistem injektor harus dapat dipanaskan supaya sampel bukan gas dapat segera dijadikan dalam bentuk uap, volume yang dimasukkan harus kecil, dan tidak ada daerah dalam sistem transport tersebut yang tidak dapat disapu oleh gas pembawa.

    2.      2.Carrier Gas Supply
    Gas pembawa (carrier gas) pada bagian kromatografi gas sangatlah penting. Gas yang dapat digunakan pada dasarnya haruslah inert, kering, dan bebas oksigen. Kondisi seperti ini dibutuhkan karena gas pembawa ini dapat saja bereaksi dan dapat mempengaruhi gas yang akan dipelajari atau diidentifikasi. Gas pembawa digunakan untuk mentransportasikan sampel melalui kolom ke detektor, oleh karena itu perlu dilakukan pemilihan fase gerak gas yang tepat. Dari sudut performa kolom, gas dengan koefisien difusi rendah lebih baik digunakan untuk kecepatan alir fase gerak rendah (gas dengan berat molekul besar: N2, CO2, Ar) sedangkan gas dengan koefisien difusi tinggi lebih baik digunakan untuk kecepatan alir fase gerak tinggi (gas dengan berat molekul rendah : H2 , He.
    3.      3.Oven
    Oven pada bagian Gc ini berfungsi intuk memanaskan kolom yang akan dilewati oleh sampel. Oven ini berfungsi untuk mengatur suhu sehingga akan mempermudah dalam proses pemisahan komponen sampel. Suhu yang digunakan pada oven ini umumnya memiliki skala suhu 30-320.

    4.      4.Kolom
    Kolom merupakan salah satu bagian yang terpenting dimana suatu komponen yang berada pada sampel akan dipisahkan pada bagian ini. Kolom ini berfungsi sebagai fasa diam dan gasa pembawa dijadikan sebagai fasa geraknya yang akan melewati kolom bersama sampel. Kolom yang digunakan pada dasarnya memiliki sifat kimia yakni sifat polar dan sifat nonpolar. Sifat kolom yang digunakan ini disesuaikan dengan jenis dari sampel yang dipisahkan.

    5.      5.Sistem Deteksi (Detektor)
    Detektor ditempatkan dalam outlet kolom untuk mendeteksi solut yang teremisikan dari kolom. Detektor tersebut harus mampu memberi respon dengan cepat dan reproduksibel pada konsentrasi solut dalam fase gerak pada umumnya berkisar antara ppm-ppt. Sifat lain yang diinginkan dari detektor adalah memberikan respon linier terhadap solut dan stabil dalam jangka waktu lama. Temperatur detektor harus diatur lebih tinggi dari temperatur kolom, agar supaya sampel dan segala sesuatu yang keluar dari kolom tidak mengalami kondensasi pada detektor.
    Detektor yang digunakan dapat bermacam macam tergantung bagaimana kebutuhan kita jika kita ingin mengetahui massa dari sampel maka kita dapat menggunakan detektor selektif massa ataupun kita juga dapat menggantinya dengan detektor lain seperti  Detektor Konduktivitas Thermal (Thermal Conductivity Detector; TCD), Detektor Ionisasi Nyala (Flame Ionization Detector; FID), Detektor Penangkap Elektron (Electron Capture Detector; ECD), Detektor Nitrogen-Fosfor (Nitrogen Phosporus Detector; NPD), Detektor Fotometri Nyala (Flame Photometric Detector; FPD), Detektor Hantar Listrik (Electrolytic Conductivity Detector; ELCD), Detektor Fotoionisasi (Photoionization Detector; PID) dan  Detektor Ionisasi Thermoionik (Thermoionic Ionization Detector; TID).
    Adapun spektrofotometri massa ini digunakan sebagai detektor yang akan membaca massa dari komponen komponen yang berasal pada sampel. Komponen-komponen yang berasal pada sampel saat setelah diionisasi akan terbaca oleh detektornya dan di rubah kedalam bentuk spektrum massa yang ditampilkan melalui sebuah komputer.

    Kromatografi Gas-Spektrometri Massa GC-MS   Bidang Keilmuan - Himasaki Periode 2019-2020 Kromatografi gas-spektrometri massa a...
  • Copyright © - HIMASAKI UIN SUNAN GUNUNG DJATI BANDUNG
    Design by INFOKOM 2023